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抗干扰变频介质损耗测试仪,具有CVT变比测量功能。可测量CVT变比、极性和相位误差。
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抗干扰变频介质损耗测试仪是一种先进的测量介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)的仪器,用于工频高压下,测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗(tgδ)和电容容量(Cx)。它淘汰了QSI高压电桥,具有操作简单、中文显示、打印,使用方便、无需换算、自带高压,抗干扰能力强等优点。体积小、重量轻,是我厂的第三代智能化介质损耗测试仪。
特点
◆具有多种测量方式,可选择正/反接线、内外标准电容器、CVT测量(无需外接升压器,仪器内自带电源)、内/外试验电压进行测量。可C1/C2同时测量。
◆测量精确、重复性好:仪器具有很高有测试进度,介损测试的基本误差小于0.0005并且测试数据重复性ji好。
◆高压短路和突然断电时,食品能迅速切断高压,并发出警告信息。
◆高压输出插痤,无外露,安全可靠
◆高压绝缘导线:高压导线的绝缘程度不仅涉及到安全性,而且其对地泄漏直接影响到反接测试的准确度。本仪器高压输出导线采用特殊材料专门制作,能直接拖地使用。10KV输出时,对地无放电、无泄漏、无声响。
◆大屏幕中文提示操作,RS232微机接口。仪器自带打印机,及时打印测试数据。
◆抗能性能仪器采用du特抗震设计,可耐震,不损坏。
◆携带方便:该仪器体积约为同类产品的70%,携带十分方便。
抗干扰变频介质损耗测试仪
技术指标
1、环境温度:0~40℃(液晶屏应避免长时日照)
2、相对湿度:30%~70%
3、供电电源:电压:220V±10%,频率50±1Hz
4、外形尺寸:长×宽×高=4900mm×300mm×390mm
5、重量:约18kg
6、输出功率:1KVA
7、显示分辨率:4位
8、测量范围:
介质损耗(tgδ):0-50%
电容容量(Cx)和加载电压:
2.5KV档:≤300nF(300000pF)
3KV档:≤200nF(200000pF)
5KV档:≤ 76nF( 76000pF)
7.5KV档:≤ 34nF( 34000pF)
10 KV档:≤ 20nF( 20000pF)
9、基本测量误差:
介质损耗(tgδ):1%±0.07%(加载电流20μA~500mA)正接
介质损耗(tgδ):2%±0.09%(加载电流 5μA~ 20mA)反接
电容容量( Cx ):1.5%±1.5pF
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